Номер виробника : | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Статус RoHs : | Без свинцю / RoHS відповідність |
Виробник / марка : | Luminary Micro / Texas Instruments |
Стан запасу : | 2101 pcs Stock |
Опис : | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Корабель від : | Гонконг |
Технічні таблиці : | |
Шлях відвантаження : | DHL/Fedex/TNT/UPS/EMS |
Деталі | 8V182512IDGGREP |
---|---|
Виробник | |
Опис | IC ABT SCAN TEST DEV3.3V 64TSSOP |
Статус безкоштовного статусу / RoHS | Без свинцю / RoHS відповідність |
Кількість доступних | 2101 pcs |
Технічні таблиці | |
Напруга живлення | 2.7 V ~ 3.6 V |
Пакет пристрою постачальника | 64-TSSOP |
Серія | - |
Упаковка | Tape & Reel (TR) |
Пакет / Корпус | 64-TFSOP (0.240", 6.10mm Width) |
Інші імена | 296-22075-2 V62/04730-01XE |
Робоча температура | -40°C ~ 85°C |
Кількість бітів | 18 |
Тип монтажу | Surface Mount |
Рівень чутливості вологи (MSL) | 1 (Unlimited) |
Час виробництва виробника | 42 Weeks |
Тип логіки | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers |
Статус безкоштовного статусу / RoHS | Lead free / RoHS Compliant |
Детальний опис | ABT Scan Test Device With Universal Bus Transceivers IC 64-TSSOP |
Номер базової частини | 74LVTH182512 |
IC REGISTERED BUFFER 160-TFBGA
IC TXRX NON-INVERT 3.6V 48SSOP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536-1
IC RECEIVER/DRVR ECL DIFF 8SOIC
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC ABT SCAN TEST DEV 3.3V 64LQFP
IC DRIVER QUAD DIFF PECL 16-SOIC
IC TXRX 8BIT TTL/BTL 52-QFP
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
IC BUFFER 1.8V 25BIT SOT536